Энциклопедический словарь нанотехнологий - дифракция медленных электронов

Термин на английском

low­-energy electron diffractionСинонимы

дифракция электронов низкой энергииАббревиатуры

ДМЭ, ДЭНЭ, LEEDСвязанные термины

дифракция быстрых электронов, поверхность, модель поверхности Si(111)7x7Определение

метод исследования структуры поверхности твердых тел, основанный на анализе картин дифракции низкоэнергетических электронов с энергией 30-200 эВ, упруго рассеянных от исследуемой поверхности

Использование для анализа поверхности электронов именно низких энергий обусловлено двумя основными причинами:

На рис. 1 представлена схема экспериментальной установки для прямого наблюдения картин ДМЭ. В электронной пушке электроны, испускаемые катодом (находящимся под отрицательным потенциалом -V), ускоряются до энергии eV, а затем движутся и рассеиваются на образце в бесполевом пространстве, поскольку первая сетка дифрактометра и образец заземлены. Вторая и третья сетки, находящиеся под потенциалом –(VDeltaV), cлужат для отсечения неупруго рассеянных электронов. Четвертая сетка заземлена и эранирует другие сетки от флюоресцентного экрана, находящегося под потенциалом порядка +5 кВ. Таким образом, электроны, упруго рассеянные на поверхности образца, после прохождения тормозящих сеток ускоряются до высоких энергий, чтобы вызвать флюоресценцию экрана, на котором и наблюдается дифракционная картина. В качестве примера на рис. 1 показана картина ДМЭ от атомарно-чистой поверхности Si(111)7x7.

Метод ДМЭ позволяет:

• Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
• Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.

Разделы

Дифракционные методы (рентгеновские, электронные, нейтронные)