Энциклопедический словарь нанотехнологий - метрология стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний)
Метрология стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний)
метрология стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний)
Метрология, стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний)
Статьи
- XAFS
- БЭТ, метод
- гало
- дислокация
- дисперсность
- индентирование при ползучести
- индентор
- карта износа
- карты трения
- критическая концентрация мицеллообразования
- микроволновая спектроскопия
- микроморфология
- нанометр
- нанопорошок
- нанотрибология
- оптический пинцет
- предел обнаружения
- просвечивающий электронный микроскоп
- рентгеновская спектроскопия
- туннелирование
- царапание на микро-/наномасштабном уровне
- шероховатость
- электронная микроскопия
- электронный микроскоп
- эффект Мёссбауэра
Энциклопедический словарь нанотехнологий. — Роснано.
2010.
Рейтинг статьи:
Вопрос-ответ:
Похожие слова
Ссылка для сайта или блога:
Ссылка для форума (bb-код):
Самые популярные термины
1 | 1083 | |
2 | 478 | |
3 | 385 | |
4 | 324 | |
5 | 318 | |
6 | 318 | |
7 | 316 | |
8 | 308 | |
9 | 297 | |
10 | 295 | |
11 | 293 | |
12 | 293 | |
13 | 287 | |
14 | 285 | |
15 | 285 | |
16 | 271 | |
17 | 266 | |
18 | 262 | |
19 | 262 | |
20 | 247 |