Энциклопедический словарь нанотехнологий - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Термин на английском

X-ray photoelectron spectroscopyСинонимы

электронная спектроскопия для химического анализаАббревиатуры

РФЭС, XPS, ЭСХА, ESCAСвязанные термины

рентгеновская спектроскопия, ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопияОпределение

разновидность фотоэлектронной спектроскопии, в которой для возбуждения фотоэлектронов используется рентгеновское излучение, и которая служит для зондирования глубоких (остовных) электронных уровней. Описание

Лабораторные источники для РФЭС это рентгеновские трубки, в которых рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени это Mg и Al, обеспечивающие излучение с энергией фотонов 1253,6 эВ и 1486,6 эВ, соответственно. Поскольку вероятность фотоэмиссии максимальна при энергии фотонов, близкой к порогу ионизации, и быстро уменьшается, когда энергия фотонов значительно превосходит энергию связи электрона, РФЭС это метод исследования глубоких остовных уровней. В спектрах РФЭС остовные уровни проявляют себя в виде острых пиков. Энергетическое положение пиков дает информацию о том, какие химические элементы присутствуют в образце, а также об их химическом окружении, которое проявляется в так называемых химических сдвигах смещениях положения пика на величину от 1 до 10 эВ при образовании химической связи. Интенсивность пика дает информацию о концентрации данного элемента в образце, поэтому РФЭС наиболее часто используется для анализа химического состава образцов. 

Альтернативное название метода - электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА) было введено основателем метода К.И. Зиебаном (K.M. Siegbahn), получившим в 1981 году Нобелевскую премию по физике "за вклад в развитие высокоразрешающей электронной спектроскопии". В настоящее время термин ЭСХА  широко уже не используется.Авторы

• Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
• Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.

Теги

Разделы

Аналитические методы (в том числе анализ поверхности)

Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности

Электронная спектроскопия

Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов