Энциклопедический словарь нанотехнологий - микроскопия

Термин на английском

microscopyСинонимы

Аббревиатуры

Связанные термины

атомно-силовая микроскопия, полевая ионная микроскопия, клетка, конфокальная микроскопия, микроскоп, оптический пинцет, отражательная электронная микроскопия, просвечивающий электронный микроскоп, сканирующая электронная микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, электронная микроскопия, электронный микроскоп, сканирующая зондовая

Определение

наука и техника применения микроскопов для получения увеличенных изображений малых объектовОписание

Микроскопия подразделяется на три большие области: оптическая, электронная и сканирующая зондовая. В оптической и электронной микроскопии используются дифракция, отражение или преломление электромагнитного излучения или электронных пучков при взаимодействии с исследуемым объектом с последующим сбором рассеянного излучения для построения изображения. Это может происходить как при облучении поля изображения образца целиком, например, в обычной оптической микроскопии или просвечивающей электронной микроскопии, так и при сканировании образца пучком маленького размера, например, в конфокальной лазерной сканирующей микроскопии или сканирующей электронной микроскопии. В сканирующей зондовой микроскопии изображение поверхности объекта формируется с помощью зонда, сканирующего поверхность объекта. Изображение получается путем механического перемещения зонда по траектории в виде растра (строка за строкой) и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью как функции его положения (координат).

Минимальный размер объекта, который можно увидеть, определяется разрешающей способностью прибора, определяемой длиной волны используемого в микроскопии излучения и аппаратными искажениями. Фундаментальное ограничение заключается в невозможности получить прямыми методами при помощи электромагнитного излучения изображение объекта, меньшего по размерам, чем длина волны этого излучения. В сканирующей микроскопии разрешение определяется минимальным диаметром пучка. В сканирующей зондовой микроскопии разрешающая способность зависит от размера зонда и характера его взаимодействия с поверхностью объекта.

Предельная разрешающая способность в различных видах микроскопии

• Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
• Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.

Теги

Разделы

Просвечивающая электронная микроскопия, в том числе высокого разрешения

Сканирующая электронная микроскопия

Зондовые методы микроскопии и спектроскопии: атомно-силовая, сканирующая туннельная, магнитно-силовая и др.