Энциклопедический словарь нанотехнологий - микроскопия зондовая

Термин на английском

probe microscopyСинонимы

Аббревиатуры

Связанные термины

атомно-силовая микроскопия, микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, сканирующая туннельная микроскопия, зонд, сканирующая зондовая микроскопияОпределение

совокупность методов определения  локальных механических, электрических, магнитных и других свойств поверхности и формирования изображения поверхности различных веществ и материалов с помощью различных микрозондов.

Результатами зондовой микроскопии являются трехмерные изображения поверхности исследуемых объектов с пространственным разрешением, доходящим для некоторых из методов до нескольких ангстрем. Наиболее распространенными видами зондовой микроскопии являются сканирующая туннельная микроскопия и атомно-силовая микроскопия. Семейство зондовых микроскопов общирно, и, наряду со сканирующим туннельным и атомно-силовым микроскопами, включает многие другие типы устройств: сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (разрешение до 50 нм), сканирующий емкостной микроскоп (разрешение до 500 нм), сканирующий тепловой микроскоп (продольное пространственное разрешение 50 нм), сканирующий бесконтактный микроскоп (пространственное разрешение в плоскости образца 5 нм), магнитно-силовой микроскоп (разрешение менее 100 нм), сканирующий фрикционный микроскоп, электростатический силовой микроскоп, сканирующий микроскоп неупругого туннелирования для регистрации фононных спектров молекул, микроскоп с эмиссией баллистических электронов, силовой микроскоп с инверсной фотоэмиссией, акустический микроскоп ближнего поля.

Возможно также использование зондовых микроскопов в качестве нанотехнологических инструментов, позволяющих изменять строение поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.

• Гусев Александр Иванович, д.ф.-м.н.

Разделы

Использование наноманипуляторов и зондов

Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов

Технология

Наука